三箱式環(huán)境試驗箱ET-300
三箱式環(huán)境試驗箱
科明三箱式環(huán)境試驗箱，3箱式上下庫體設(shè)計，單個箱槽可獨立控溫。整體式箱體結(jié)構(gòu)試驗箱由三部分組成:保溫主箱體、獨立的制冷機組、電器控制柜組成。
三箱式環(huán)境試驗箱ET-300
產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：
溫度范圍：0℃ ～ +100℃
溫度均勻度：≤2.0℃
溫度波動度：±0.5℃
溫度偏差：±2.0℃
冷卻方式：風冷
送風方式：水平送風
電源：380V AC(±10%)50Hz
功率：3.3KW
產(chǎn)品型號：ET-300
使用場地條件（三箱整機）：
1．環(huán)境溫度: 5℃-35℃; 2．相對濕度: 不大于85%R.H 3．大氣壓力：80kPa~106kPa 4.平坦無振動的地面; 5.選擇通風良好，無陽光直接照射或其他熱源直接輻射; 6.周圍無強烈氣流：當周圍空氣需強制流動時，氣流不應(yīng)直接吹到箱體上; 7.周圍無強電磁場影響； 8.周圍無高濃度粉塵及腐蝕性物質(zhì) |
產(chǎn)品用途：
適用但不限于工業(yè)產(chǎn)品、零部件、原材料等所有需要溫度的環(huán)境模擬可靠性試驗,具有溫度控制精度高和控制范圍寬的特點,性能指標符合《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫試驗設(shè)備》的要求。
參照試驗標準：
GB/T 2423.1-2008(IEC68-2-1)試驗Ab:低溫試驗方法。
GB/T 2423.2-2008(IEC68-2-2)試驗Bb:高溫試驗方法。
GJB360.8-2009(MIL-STD.202F)高溫壽命試驗。
GJBl50.3-2009(MIL-STD-810D)高溫試驗方法。
GJBl50.4-2009(MIL-STD-810D)低溫試驗方法。
